JEOL发布新一代球差校正透射电镜

  2014年5月7日,日本电子株式会社(JEOL)全球同步发布了终极分辨率的新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F,把商业化的透射电镜推向了一个新极限。

 

  2009年,JEOL推出了最高加速电压200kV的球差校正透射电镜JEM-ARM200F,在全世界大获成功,把人类认识微观世界的能力向前推进了一大步。随着球差校正透射电镜在全世界的普及和市场需求的不断变化,JEOL总结了JEM-ARM200F的成功经验,并开发出了自己的12极球差校正器,加装在新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F上。不但大幅度提高分辨率,而且对样品的分析能力、原位观察能力、球差校正的操作方便性等都有飞跃性的提升。

 

  JEM-ARM300F标配日本电子的12极球差校正器、高亮度冷场发射电子枪,TEM的保证分辨率为0.05nm, STEM HAADF的保证分辨率为0.063nm.2014年5月开始正式接受订单。

 

 

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